Размер:
A A A
Цвет: C C C
Изображения Вкл. Выкл.
Обычная версия сайта

Лаборатория электронной микроскопии и малоугловой рентгеновской дифрактометрии


Контактное лицо :  директор Института физики и химии, зав. кафедрой общей физики, к.ф.-м.н., доцент Нищев Константин Николаевич
Телефон/Факс :  (8342)24-24-44; (8342)29-05-40 / (8342)24-24-44
E-mail :  nishchev@inbox.ru

Компетенции лаборатории : 
  • исследование  микро- и наноструктуры материалов методами  растровой электронной микроскопии;
  • анализ элементного состава материалов методом рентгеноспектрального энергодисперсионного анализа;
  • применение функции фокусированного ионного пучка (ФИП) для трехмерной реконструкции поверхности исследуемых объектов;
  • исследование микро- и наноструктуры полимеров, нанокомпозитов, биологических и мезопористых материалов, наночастиц в аморфной матрице методами малоуглового рассеяния рентгеновских лучей (определение распределения по размерам неоднородностей, радиуса инерции, формы нанообъектов; моделирование пространственного распределения плотности для разупорядоченных и частично упорядоченных конденсированных систем);
  • исследование микро- и наноструктуры диэлектрических, проводящих и магнитных материалов методами зондовой сканирующей микроскопии, исследование рельефа поверхностей с нанометровым разрешением, фрактографический анализ материалов, туннельная спектроскопия материалов (ВАХ), исследование распределения заряда и потенциала по поверхности образца, исследование доменной структуры магнетиков.


  • Оборудование Фото Основные направления исследований
    Комбинированная система мало- и широкоуглового рассеяния рентгеновских лучей (малоугловой рентгеновский дифрактометр) Hecus S3-MICRO Исследование микро- и наноструктуры полимеров, нанокомпозитов, гелей, биологических и мезопористых материалов, наночастиц в стекольной матрице, жидких кристаллов; определение распределения по размерам неоднородностей, радиуса инерции, формы нанообъектов; кристаллографический анализ структуры (размеры кристаллита, межплоскостного расстояния); моделирование пространственного распределения плотности для разупорядоченных и частично упорядоченных конденсированных систем.
    Сканирующий зондовый микроскоп SPM 9600 SHIMADZU Исследование микро- и наноструктуры диэлектрических, проводящих и магнитных материалов, исследование рельефа поверхностей с нанометровым разрешением, фрактографический анализ материалов, туннельная спектроскопия материалов (ВАХ), исследование распределения заряда и потенциала по поверхности образца, исследование доменной структуры магнетиков.
    Растровый электронный микроскоп Quanta TM 3D 200i с системами: микроанализа (EDS), EBSD, фокусированного ионного пучка (ФИП) Определение микро- и наноструктуры материалов, анализ элементного состава образцов (от Be до U), определение профиля распределения элементов; кристаллографический анализ структуры; 3d- модификация поверхности образцов с использованием ФИП

    <--Назад к лабораториям