Размер:
A A A
Цвет: C C C
Изображения Вкл. Выкл.
Обычная версия сайта

Сканирующий зондовый микроскоп SPM 9600 SHIMADZU

Сканирующий зондовый микроскоп SPM 9600 SHIMADZU

Местонахождение оборудования и условие доступа к нему
Лаборатория электронной микроскопии и малоугловой рентгеновской дифрактометрии

Основные направления исследований, проводимых с использованием оборудования
Исследование микро- и наноструктуры диэлектрических, проводящих и магнитных материалов, исследование рельефа поверхностей с нанометровым разрешением, фрактографический анализ материалов, туннельная спектроскопия материалов (ВАХ), исследование распределения заряда и потенциала по поверхности образца, исследование доменной структуры магнетиков.

Технические характеристики
Разрешение: горизонтальное – 0,2 нм; вертикальное – 0,01 нм.
Диапазоны сканирования по осям XYZ: 30 мкм×30 мкм×5 мкм; 125 мкм×125 мкм×7 мкм; 55 мкм×55 мкм×13 мкм; 2,5 мкм×2,5 мкм×0,3 мкм.
Столик для образца:
  • максимальные размеры образца: d=24 мм×8 мм.;
  • способ замены образца: механизм со скользящей головкой;
  • метод фиксации образца:  магнитный;
  • перемещение головки: 6×6 мм (для образцов d=18 мм).
  • Цифровое отображение сигналов.
    Режимы работы: контактный; динамический; фазовый; силовая модуляция; токовый; магнитно-силовой;  электросиловой; латеральносиловой; туннельный.
    Комплектация:
    Источник света: лазерный диод (670 нм, 1 мВт).
    Фотодетектор.
    Механизм грубого перемещения по оси Z: полностью автоматизированный на основе шагового двигателя, с диапазоном перемещения 10 мм.
    Встроенная виброизоляционная защитная система.

    <--Назад к оборудованию