Размер:
A A A
Цвет: C C C
Изображения Вкл. Выкл.
Обычная версия сайта

Рефрактометр Metricon2010

Рефрактометр Metricon2010

Местонахождение оборудования и условие доступа к нему
Научно-исследовательская лаборатория наноструктурированных материалов

Основные направления исследований, проводимых с использованием оборудования
Измерение показателя преломления оптических стекол, показателя преломления и толщины тонких пленок.

Технические характеристики
Диапазон измерения показателя преломления: 1-2,65.
Рабочие длины волн: 632,8 нм, 969 нм, 1539 нм.
Погрешность определения показателя преломления: 0,0005.
Погрешность определения толщины пленки: ±(5% + 5 нм).
Метод фиксации образца: пневматический.
Метод измерения: метод нарушенного полного внутреннего отражения.

<--Назад к оборудованию